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2001年，开发研制了BC3193半导体分立器件测试系统。
2003年， BC3193半导体分立器件测试系统通过了北京市科学研究院的鉴定。
2004年，开发研制了BC3186DC/DC 模块测试系统。
2005年，开发研制了HLTC—128半导体分立器件高低温巡测系统。
2007年，开发研制了BC3193TM分立器件时间参数测试系统。
2009年，开发研制了BC3199模数混合集成电路测试系统。